日立FT110A型X射线荧光镀层厚度测量仪
日立FT110A型X射线荧光镀层厚度测量仪,日立（主营EA1000AIII、EA1000VX、EA1200VX、EA1300VX、EA6000VX、FT110A、FT9300、FT9500、FT9500X、FT9550X、FT150、FT150h、FT150L）FT110A系列产品.
X射线荧光光谱仪Epsilon 3X_Panalytical
Epsilon 3X 仪器为台式能量色散型X 射线荧光(EDXRF) 光谱仪，它采用了激发和检测技术的新成果。该仪器运行稳定，操作简便，对整个元素周期表中的元素均具备卓越的分析性能。
荧光光谱测量系统
光谱测量系统 荧光光谱测量系统 荧光光谱测量系统的说明 荧光光谱测量系统的介绍 荧光光谱测量系统的特点 荧光光谱测量系统的简图
光致发光光谱成像测量系统
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RoHS检测仪--Ux-230
可以对RoHS指令和无卤化标准中的六种有害元素（Pb，Cd，Hg，Br，Cr，Cl）进行精准测试；元素分析范围：从铝(Al)到铀(U)，ppm量级；
Ux-510多元素分析专家
真空测试系统 特别设计的真空测试系统，全面保证了轻质元素（CL等）的检测质量，同时保留了原有测试系统对于其他元素的适应性。不会因测轻质元素而降低对其他元素的测试效果。